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Zerstörungsmechanismen in Leistungsbauelementen

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Halbleiter-Leistungsbauelemente
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Zusammenfassung

In diesem Abschnitt werden einige Ausfallmechanismen behandelt und dazu jeweils charakteristische Bilder gezeigt. Ausfallanalyse erfordert sehr viel Erfahrung, insbesondere sind die Bedingungen im Schaltkreis während des Ausfalls einzubeziehen. Auch können sich die Bilder gleichen und es sei davor gewarnt, nur anhand von Detailbildern Schlüsse zu ziehen. Allerdings steht in der praktischen Anwendung der Ingenieur sehr oft vor dem Problem der Fehlersuche, und dafür können die folgenden Ausführungen hilfreich sein.

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© 2012 Springer-Verlag Berlin Heidelberg

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Lutz, J. (2012). Zerstörungsmechanismen in Leistungsbauelementen. In: Halbleiter-Leistungsbauelemente. Springer, Berlin, Heidelberg. https://doi.org/10.1007/978-3-642-29796-0_5

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