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Versuch 3: Interferometrische Distanzmessung

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Medizinische Meßtechnik<br />

Fachbereich 06: Feinwerktechnik/Physikalische Technik<br />

4. Semester<br />

<strong>Versuch</strong> 3: <strong>Interferometrische</strong> <strong>Distanzmessung</strong><br />

Michelson-Interferometer<br />

Der Aufbau des Interferometers ist aus Abbildung 1 zu ersehen. Der linear polarisierte<br />

Laserstrahl wird durch das Teleskop auf ca. 10 mm aufgeweitet. Die λ/4<br />

Verzögerungsplatte erzeugt eine zirkulare Polarisation. Der Strahlteilerwürfel spaltet den<br />

einfallenden Strahl in die Arme 1 und 2 auf. Die beiden Teilstrahlen werden von den<br />

Spiegeln 1 und 2 in sich selbst zurückreflektiert und am Strahlteiler wieder vereinigt. Ein<br />

Teil der Überlagerten Strahlen wird auf den Detektor B fokussiert, der andere Teil wird<br />

durch die λ/4 Verzögerungsplatte in linear polarisiertes Licht umgewandelt. Dessen<br />

Polarisationsebene steht allerdings senkrecht zu der des He-Ne-Lasers so daß es von<br />

dem Polarisationsabhängigen Spiegel transmittiert wird und auf dem Detektor A registriert<br />

werden kann. Mit diesem relativ einfachen Aufbau wird die Interferenzfigur von den<br />

Detektoren A und B elektrisch erfaßt und kann auch am Beobachtungsschirm visuell<br />

verfolgt werden.<br />

<strong>Interferometrische</strong> <strong>Distanzmessung</strong> 1


Abb.1 : <strong>Versuch</strong>saufbau FH-Interfrometer<br />

Im folgenden soll das Zustandekommen der Interferenzfiguren etwas genauer untersucht<br />

werden. Hierbei wird ein verlustloser Strahlteilerwürfel mit der Reflexion R und der<br />

Transmission T angenommen (R + T = 1). Der vom Laser auf den Strahlteiler auftreffende<br />

Laserstrahl hat die Leistung P 0 . Betrachtet wird die Interferenzfigur auf Detektor B (Der<br />

zweite Strahlteiler für den Beobachtungsschirm wird vernachlässigt). Unabhängig davon,<br />

welchen Arm (1/2) das Laserlicht durchlaufen hat, hätte am Detektor jeder der beiden<br />

Teilstrahlen die Intensität<br />

I 1/2 = R T I 0<br />

(1)<br />

Beide Strahlen werden an dem Spiegel S 1 oder S 2 in sich selbst zurückgeworfen und<br />

treffen auf dem Rückweg wieder auf den Strahlteiler, wo die Asymmetrie der beiden<br />

Strahlen E 1 + E 2 aufgehoben wird, so daß sie nun vollkommen gleichwertig sind.Da es<br />

sich aber um eine kohärente Überlagerung handelt, müssen die Amplituden und nicht die<br />

Leistung der beiden Teilstrahlen addiert werden. Für die Feldstärken der beiden Wellen gilt<br />

dann :<br />

mit dem Wellenvektor:<br />

E 1<br />

= A 1<br />

cos (!t - kx 1 - " 1<br />

)<br />

E 2<br />

= A 2<br />

cos (!t - kx 2 - " 2<br />

)<br />

k = 2 !<br />

"<br />

(2)<br />

(3)<br />

(4)<br />

Dabei bedeuten A 1 und A 2 die beiden Amplituden, f = c/λ die Frequenz des Laserlichtes,<br />

x 1/2 die Wege, die die beiden Wellen von ihrem Ausgangspunkt zurückgelegt haben und<br />

ϕ 1/2 eine konstante Phasenverschiebung der beiden Teilstrahlen. Die Überlagerung der<br />

beiden Teilwellen im Strahlteiler entspricht der Zeigeraddition von E 1 + E 2 . Die<br />

Gesamtintensität I, proportional zum Strom in der Photodiode, ergibt sich damit mit dem<br />

Wellenwiderstand Z :<br />

I = (E 1+E 2 ) 2<br />

Z<br />

(5)<br />

Unter Anwendung der Additionstheoreme für die cos-Funktionen und den Intensitäten I 1<br />

und I 2 wird die Gesamtintensität:<br />

I = I 1 + I 2 + 2 I 1 I 2 cos k x 1 – x 2 + ! 1 - ! 2<br />

(6)<br />

Das Argument in der Kosinusinusfunktion beschreibt die Phasendifferenz zwischen<br />

Teilstrahl 1 und Teilstrahl 2. Wird die Differenz !" = " 1 - " 2 als konstant angenommen so<br />

berechnet sich die Phasendifferenz zwischen den beiden Teilstrahlen zu<br />

! = k x 1 – x 2 +"#<br />

(7)<br />

<strong>Interferometrische</strong> <strong>Distanzmessung</strong> 2


Ist ! ein Vielfaches von 2π, dann treffen die beiden Strahlen ohne Gangunterschied auf<br />

der Beobachtungsebene auf und verstärken sich. Ist dagegen das Argument in der<br />

Kosinusinusfunktion ein ungeradzahliges Vielfaches von π, dann verlaufen die beiden<br />

Teilstrahlen gegenphasig und löschen sich aus. Bei einer Messung mit dem Interferometer<br />

soll nicht x 1 – x 2<br />

vermessen werden, sondern eine Ortsänderung !x von einen der beiden<br />

Spiegel z.B. von Spiegel 1 detektiert werden. In diesen Fall wird x 1<br />

in Gleichung 7 ersetzt<br />

durch x 1 + 2 !x . Die Änderung der Phasendifferenz !" verursacht durch !x wird<br />

beschrieben durch:<br />

!" = 2 k !x = 4#<br />

$ !x (8)<br />

Berücksichtigt man diese Änderung in Gleichung 6, so erhält man für den<br />

Photodiodenstrom<br />

i = i 0<br />

1 + cos ! + "!<br />

(9)<br />

Zu beachten ist jetzt die Mehrdeutigkeit des Stromes i in Abhängigkeit der<br />

Phasenverschiebung. Das heißt, daß bei einer kontinuierlichen Erhöhung von !x und<br />

damit von !" ändert sich der Strom entsprechend Gleichung 9 gemäß einer Cosinus<br />

Funktion. Der Abstand zwischen zwei benachbarten Maxima oder Minima des Stromes i<br />

entspricht einer Phasenänderung !" = 2 # , und damit einer Verschiebung<br />

!x des<br />

Spiegels um !x = " 2 .<br />

Frage: Wenn ein Spiegel um eine ganze Wellenlänge verschoben wird, wie groß ist<br />

dann die Änderung der Phasendifferenz und damit des Stromes i?<br />

Die entstehenden Interferenzbilder sind auch noch vom Winkel unter dem sich die<br />

Wellenzüge überlagern, abhängig. D.h. die Verkippung / Iustage der Spiegel hat einen<br />

großen Einfluß auf Die Interferenzfigur und damit auf den Strom der Photodiode. Man<br />

kann das am <strong>Versuch</strong>saufbau beobachten. Wenn man die Spannung am Piezoelement<br />

erhöht, ändert sich abgesehen von den Hell- Dunkel-Übergängen auch das Aussehen der<br />

Interferenzfigur. Dieser Effekt wird verursacht durch eine minimale Verkippung des<br />

Spiegels aufgrund einer Verbiegung des Piezoelements (unerwünschter Effekt).<br />

Der Aufbau des Interferometers ist aus Abbildung 2 zu ersehen. Der linear polarisierte<br />

Laserstrahl wird durch das Teleskop auf ca. 10 mm aufgeweitet. Die λ/4<br />

Verzögerungsplatte erzeugt eine zirkulare Polarisation. Der Strahlteilerwürfel spaltet den<br />

einfallenden Strahl in die Arme 1 und 2 auf. Die Beiden Teilstrahlen werden von den<br />

Spiegeln 1 und 2 in sich selbst zurückreflektiert und am Strahlteiler wieder vereinigt. Mit<br />

diesem relativ einfachen Aufbau wird die Interferenzfigur von den Detektoren A und B<br />

elektrisch erfaßt und kann auch am Beobachtungsschirm visuell verfolgt werden.<br />

<strong>Interferometrische</strong> <strong>Distanzmessung</strong> 3


Durchführung<br />

Es wird ein He-Ne-Laser mit einer Wellenlänge von λ = 632,8nm verwendet.<br />

Da zwischen den beiden Wellen ein Gangunterschied erzeugt wird, entsteht eine Folge<br />

von beobachtbaren Hell-Dunkelstreifen. Jedesmal wenn ein Übergang zwischen hell nach<br />

dunkel erfolgt, wurde die Meßwelle gegenüber der Referenzwelle gerade um λ/2, also um<br />

316,4nm verschoben. Die Auswertung einer Meßstrecke(S) bedeutet daher das<br />

“Abzählen”(N) der Hell-Dunkelringe bzw:<br />

Das “Abzählen”wird in diesem Fall vom Detektor übernommen (dunkel ⇒ Signal: low; hell<br />

⇒ Signal: high).<br />

Ein Spiegel ist auf einem Piezoelement befestigt, das auf das Anlegen einer Spannung mit<br />

einer Längenänderung reagiert.<br />

Die Spannungsversorgung des Piezoelements erfolgt über einen<br />

Hochspannungsverstärker mit einer Nennspannung von 0 – -1000V. Wird die anliegende<br />

Spannung erhöht, kann beobachtet werden wie sich die Interferenzfigur bewegt. Ab etwa<br />

200V ist die Auslenkung des Piezoelements nicht mehr rein transversal linear, sondern<br />

zeigt zusätzlich eine Rotationskomponente (vgl. Korkenzieher), die den Spiegel verkippt.<br />

Um diesen Effekt zu vermeiden sollen nur Meßkurven nur in einem Bereich von 0 – -150V<br />

aufgenommen werden.<br />

In einer ersten Meßreihe wurde die Wegänderung des Piezos bei manueller<br />

Spannungsänderung ermittelt.<br />

Da im Spannungsbereich von 0 – -121V 10 Minima registriert wurden, ergibt sich daraus<br />

eine Wegänderung von S = 3,164µm. Der Spannungswert -100V entspricht somit einer<br />

Verschiebung von 2,615µm. Bei einer Spannungsänderung von ∆Umax -1000V würde der<br />

Gesamtstellweg 26,15µm betragen.<br />

Die Wegänderung eines Piezos ist nicht auf jeden Fall linear zur Spannungsänderung. Bei<br />

einer Richtungsumkehr tritt meist der Effekt der Hysterese auf. Dieser Effekt soll im<br />

folgenden näher untersucht werden.<br />

Dazu wurde der Piezo linear ansteigend in einem Spannungsbereich von 0 bis -114Volt<br />

verstellt, und dann wieder auf 0 Volt zurückgefahren. Der Voltbetrag bei den jeweiligen<br />

Minima wurde notiert und in die Kurve Abb.2 eingetragen. Dabei zeigt die mit den hellen<br />

Kreisen den Vorlauf des Piezos, während die Kurve mit den dunklen Kreisen den Rücklauf<br />

darstellt. Die Ausdehnung des Piezo ist nicht proportional zur elektrischen Feldstärke.<br />

Welche Ausdehnung der Translator bei einer bestimmten Spannung einnimmt, hängt<br />

davon ab, ob er vorher bei einer höheren oder niederen Spannung betrieben wurde.<br />

Dieses nichtlineare Verhalten läßt sich in einem Spannungs/Ausdehnungsdiagramm<br />

zeigen.<br />

<strong>Interferometrische</strong> <strong>Distanzmessung</strong> 4


Vorlauf<br />

Rücklauf<br />

Minima<br />

10<br />

3<br />

9<br />

8<br />

7<br />

6<br />

2<br />

5<br />

4<br />

3<br />

1<br />

2<br />

1<br />

0 0<br />

0 10 20 30 40 50 60 70 80 90 100 110 120<br />

Volt<br />

Weg [µm]<br />

Abb. 2: Hysteresekurve<br />

In der Grafik erkennt man am siebten Minima eine Spannungsdifferenz von 14V. Da<br />

durchschnittlich alle 13 Volt ein Minima zu erwarten ist, beträgt die maximale<br />

Positionsabweichung 0,340µm.<br />

<strong>Versuch</strong>: Führen Sie die oben beschriebene Messung durch und bestimmen Sie die<br />

Wegänderung bei einer Spannungserhöhung, die Wegänderung beim Rückweg sowie<br />

mittlere und maximale Hysterese (= Wegunterschied bei gleicher Spannung).<br />

Zusätzlich ist eine Darstellung über den Rechner vorbereitet. Ein Rampengenerator<br />

steuert einen Verstärker, der Output am Rampengenerator geht einmal zum Verstärker<br />

(High Voltage Amplifier) und zum anderen ( rechts) zum Oszillographen. Der High Voltage<br />

Generator ist mit dem Piezo verbunden. Zur Einstellung am Oszillografen sollte 2.5s/<br />

Intervall ausgewählt werden. Abbildung 3 zeigt das Bild am Oszillographen und am<br />

Rechner (über Labview).<br />

<strong>Interferometrische</strong> <strong>Distanzmessung</strong> 5


prog<br />

Amplitude [V] vs. sample [s]<br />

80.0<br />

60.0<br />

ch1<br />

ch2<br />

40.0<br />

20.0<br />

0.0<br />

-20.0<br />

-40.0<br />

-60.0<br />

-80.0<br />

-100.0<br />

-120.0<br />

-140.0<br />

0E+0 2E+0 4E+0 6E+0 8E+0 1E+1 1E+1 1E+1 2E+1 2E+1 2E+1 2E+1<br />

2E+1<br />

Cursor 0 12.19 -9.0E+0<br />

Abbildung 3: LabVIEW bild der Darstellung einer Rampe und der gleichzeitig erfassten<br />

Bewegung des Spiegels. Man erkennt schon grob eine unterschiedliche Zeitkonstante der<br />

Schwingung .<br />

Mittels des Cursors kann bei Einstellung auf das Maximum die Amplitude der Rampe<br />

abgelesen werden ( im Beispiel -9.00 Volt im Kasten unten). Trägt man diese Werte über<br />

einen Vor-und Rücklauf auf, erhält man eine Darstellung wie sie in Abbildung 2 zu sehen<br />

ist.<br />

<strong>Versuch</strong>: Auch die thermische Ausdehnung eines Aluminiumblockes lässt sich mit dem<br />

Interferometer vermessen. Hierzu wird der Aluminiumblock durch ein Peltierelement<br />

abgekühlt.<br />

Das Peltierelement besitzt die Funktion einer elektrischen Wärmepumpe - das<br />

Funktionsprinzip beruht auf einer Umkehrung des thermoelektrischen Effekts. Fließt ein<br />

Strom durch eine Grenzschicht zwischen zwei unterschiedlichen Metallen, so entsteht an<br />

der Kontaktstelle eine Temperaturdifferenz. Durch Umkehrung der Stromrichtung ergibt<br />

sich auch eine Temperaturdifferenz mit umgekehrtem Vorzeichen. Peltierelemente werden<br />

beispielsweise dazu genutzt, Infrarotdetektoren zu kühlen um deren Rauschen zu<br />

verringern. (siehe Anhang)<br />

Die folgende Messung ist im Team durchzuführen (einer mißt zwei schreiben). Durch das<br />

Anlegen eines Stromes von 1 A an das Peltierelement wird der Aluminiumblock und die<br />

dahinterliegende Platte abgekühlt, und zieht sich daher zusammen. Es ist jetzt bei jedem<br />

Maximum und Minimum die Zeit und die Temperatur zu notieren, bis innerhalb von 30 s<br />

<strong>Interferometrische</strong> <strong>Distanzmessung</strong> 6


keine nennenswerte Änderung mehr auftritt. Die Ergebnisse sind in ein Zeit-Weg- bzw. in<br />

ein Zeit-Temperaturdiagramm einzutragen (zur Hilfe Abbildung 6-Anhang). Wie groß ist die<br />

Zeitkonstante des Systems Alublock - Peltierelement - Kühkörper?<br />

Der gemessene Temperatur-Zeitverlauf entspricht der Sprungantwort des Systems.<br />

Berechnen Sie daraus die Implsantwort unter der Annahme eines linearen Systems.<br />

Die Aufnahme der Messwerte in den ersten 50 Sekunden geschieht folgendermaßen:<br />

Das Temperaturmessgerät ALMEMO (Meßfühler ist ein PT 100) ist mit dem Oszillografen<br />

verbunden (statt der Rampe im vorherigen <strong>Versuch</strong>). Zeitachse ist 5s pro Intervall, die<br />

Empfindlichkeit sollte mit 20mV bei Kanal 1 gewählt werden.<br />

Nach dem Einschalten des Stromes (möglichst zu der Zeit, wo der Oszillograf auf der x-<br />

Achse neu beginnt) und dem Betätigen der Stoppuhr können die ersten 45 Sekunden<br />

aufgezeichnet werden. Es erfordert ein Stop am Oszillografen vor Erreichen des<br />

Bildschirmendes. Die Messung sollte dann tabellarisch weitergeführt werden (Zeit,<br />

Temperatur bei jedem Maximum. Durch das Auslesen des Oszillografen gleich nach dem<br />

ersten vollen Bildschirm dürfte nur ein Maximum verloren gehen.<br />

Die Auswertung des Anfangsbereichs läßt sich mit dem Cursor bewerkstelligen (Abbildung<br />

4).<br />

prog<br />

Amplitude [V] vs. sample [s]<br />

100.0<br />

80.0<br />

ch1<br />

ch2<br />

60.0<br />

40.0<br />

20.0<br />

0.0<br />

-20.0<br />

-40.0<br />

-60.0<br />

-80.0<br />

-100.0<br />

-120.0<br />

-140.0<br />

0E+0 5E+0 1E+1 2E+1 2E+1 2E+1 3E+1 4E+1 4E+1 4E+1<br />

5E+1<br />

Cursor 0 45.68 3.1E+1<br />

Abbildung 4: Beispiel für die Abkühlung des Aluminium-Blocks und seine Wirkung auf die<br />

Längenänderung des Interferometer-Arms.<br />

Man erkennt, dass nach dem Einschalten der Abstand der Maxima immer größen wird.<br />

Durch die Cursorstellung kann man jedem Maximum eine Zeit- (x-Achse) und eine<br />

<strong>Interferometrische</strong> <strong>Distanzmessung</strong> 7


Temperatur (y-Achse) zuordnen.(Beispiel Maximum 9 nach 45.68s (minus Startwert<br />

beachten) bei einer Spannung von 31 Volt (Umrechnung in Temperatur)).<br />

<strong>Interferometrische</strong> <strong>Distanzmessung</strong> 8


Anhang:<br />

Die durch den eigentlichen Peltier-Effekt erzielte Temperaturänderung verläuft linear mit<br />

der angelegten Stromstärke I (Abb. 5). Zusätzlich jedoch führt der Strom I auch zu einer<br />

Erwärmung des gesamten Peltierelements, da dieses einen ohmschen Widerstand<br />

aufweist. Die Erwärmung der Metalle ist dabei proportional zur elektrischen Energie W, die<br />

ihrerseits eine quadratische Abhängigkeit gegenüber der Stromstärke I aufweist: W = R •<br />

I 2 (Abb. 5). Die Kennlinie eines Peltierelements ergibt sich somit aus der Addition der<br />

beiden Teileffekte und besitzt daher einen asymmetrischen Verlauf bezüglich der<br />

Ausgangstemperatur (Abb.5). Dieser Kennlinie ist zu entnehmen, daß ein Peltier-Element<br />

grundsätzlich nur eine gegebene Minimaltemperatur T min erreicht werden kann.. Die<br />

Minimaltemperatur T min wird nur im Leerlauf erreicht - bei Wärmetransport über das<br />

Peltierelement ist die maximal erreichbare Temperaturdifferenz deutlich geringer als T min .<br />

Aus der Kennlinie ist auch zu entnehmen, daß sich die Temperaturdifferenz bei<br />

Stomumkehr (Erwärmung) wesentlich vergrößert, da in diesem Fall der Peltier-Effekt und<br />

die ohmsche Erwärmung in die gleiche Richtung wirken.<br />

Abb. 5: Kennlinie eines Peltierelements<br />

Die charakteristische Zeit τ und die Totzeit t Tot<br />

In Abb. 6a ist die Systemantwort eines idealen Tiefpasses auf eine Stufenfunktion x e (t) =<br />

u(t) dargestellt. Das Ausgangssignal x a (t) des Systems enthält eine Exponentialfunktion,<br />

die sich mit der charakteristischen Zeit t nach unendlich langer Zeit an einen Endwert x ∞<br />

annähert:<br />

(10)<br />

x a (t) = x ! 1 - exp - t !<br />

Das reale thermische System zeigt einen etwas unterschiedlichen Verlauf, da das<br />

Thermometer erst nach einer bestimmten „Totzeit" nach dem Einschalten des Stromes<br />

eine Reaktion zeigt (Abb. 6b). Die Systemantwort besteht somit aus zwei<br />

unterschiedlichen Effekten, die in der folgenden Analyse voneinander zu separieren sind.<br />

Subtrahiert man den Grenzwert x ∞ von den einzelnen Meßwerten, so erhält man bei<br />

einem reinen Tiefpaßsystem eine reine Exponentialfunktion:<br />

<strong>Interferometrische</strong> <strong>Distanzmessung</strong> 9


(11)<br />

x a (t) - x ! = x ! • exp - t !<br />

Das Realsystem zeigt auch in dieser Darstellung ein abweichendes Verhalten (Abb. 6c).<br />

Logarithmiert man nun die Funktion x a (t) - x ∞ , so liefert das ideale Tiefpaßsystem eine<br />

Gerade mit der Steigung - 1/τ:<br />

(12)<br />

ln x a (t) - x ! = ln x ! - t !<br />

Das reale thermische System zeigt dieses lineare Verhalten erst nach einer gewissen Zeit<br />

(Abb. 6d). Der lineare Teil der Funktion kann nun für die Ermittlung der charakteristischen<br />

Zeit τ verwendet werden. Die Totzeit t Tot läßt sich durch Parallelverschiebung des linearen<br />

Anteils feststellen (Abb. 6d).<br />

<strong>Interferometrische</strong> <strong>Distanzmessung</strong> 10


Abb. 6: Ermittelung von Kenngrößen zur Beschreibung des Zeitverhaltens des<br />

thermischen Systems<br />

<strong>Interferometrische</strong> <strong>Distanzmessung</strong> 11

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